Standard Leeb Schlag vorrichtung Härte Sonde d Typ mit 3-poligem Kabel

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YUSHI INSTRUMENTS9 yrs

CN

Hauptmerkmale

Andere Merkmale

Ursprungsort

Liaoning, China

Markenname

YUSHI

Modellnummer

Hardness Impact Device D Probe

Product name

Leeb Hardness Tester Impact Devices

Application

Industrial Metal Hardness Test

Standard Model

D Type Probe

Standard Configuration

3 Pin Cable, Brush and Small Supporting Ring.

Type

Standard

Optional Model

DL Type, G Type, C Type, DC Type

Package

Carton

MOQ

1

Verpackung und Lieferung

Details zur Verpackung

The Leeb Hardness Tester Impact Devices D Probe packed in carton.
The Leeb hardess probe and 3 Pin Cable, Brush and Small Supporting Ring each one pc.
Order Default Model: D type impact device Leeb probe
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Verkaufseinheiten:

Einzelartikel

Einzelpackungsgröße:

15X25X1 cm

Einzelbruttogewicht:

0.500 kg

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