Quadratischer Widerstands tester für poly kristalline Silizium wafer
Marke
Jg
Modell
St2258c
Nutzung
Test blatt beständigkeit
Widerstands test bereich
200mu Ohm-200k Ohm
Genauigkeit
0.5%
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Mess verfahren
Vier-Sonden-Methode
Auflösung
0,001
Schnitts telle
Usb-schnitts telle
Verpackung und Lieferung
Details zur Verpackung
Digital monocrystalline silicon wafer sheet resistance meter/ polycrystalline silicon wafer square resistance tester and accessories are packed in carton
