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Lab Mueller Matrix-Spektroskop-Elipsometer für Halbleiter-Folgenstruktur und periodische Nanostruktur
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Zhengzhou Tainuo Film Materials Co., Ltd.
7 yrs
CN
Bewegen Sie zum Hineinzoomen den Mauszeiger
Hauptmerkmale
Zentrale Industriespezifikation
Garantie
1 JAHR
Energie
Elektronische
Andere Merkmale
Maßgeschneiderte unterstützung
OEM
Ursprungsort
Henan, China
Markenname
CYKY
Modellnummer
CY-SE-L
Ellipso metrische Parameter
Psi: 0-90 °, Delta: -90-270 °
Wellenlängen bereich der Lichtquelle
380-1000nm
380-1000nm
Durchmesser 200μm
Messzeit
<15s
Mess winkel
45-90 °
Fokussierung funktion
0-20mm, automatische Fokus findung
Genauigkeit der Wiederholbar keit der Film dicke
Besser als 0,005 nm
Depolarisation genauigkeit
± 0.5%
Produktname
Spektroskop isches Ellipso meter
Stichwort
Ellipso meter zur Film dicken analyze
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Beschaffungszeit
Menge (Sätze)
1 - 1
> 1
Vsl. Dauer (Tage)
90
Zu verhandeln
Produktbeschreibungen vom Lieferanten
Mindestbestellmenge: 1 Satz
80.000,00 $ - 110.000,00 $
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